目录：
一、外观
二、基准测试
三、温度
四、进阶测试项目：4KB QD1 ~ QD64的 随机读写理论测试
五、进阶测试项目：4KB QD32 随机写入离散度测试
六、GC效率测试
七、总结及测试环境
一、介绍
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2016-1-8 22:30 上传
新款优盘改用黑色铝合金外壳，在做工、质感、散热等方面相比原来的塑料外壳提升很大，具体的外观评测可以看Hashimoto版主的开箱视频（http://v.youku.com/v_show/id_XMTQzNDQ0MjgxNg==.html）
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2016-1-8 22:47 上传
CHIPFANCIER 128GB/256GB/512GB 采用了SM2246EN固态硬盘主控，其性能中等固态硬盘，远远超越普通优盘，下面将进行性能测试。
二、基准测试
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2016-1-8 22:53 上传
使用CrystalDiskInfo软件查看优盘信息，由于是SSD主控，因此能够检测到完整的SMART信息。
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2016-1-8 22:35 上传
AS SSD Benchmark是一个专门为SSD测试而设计的标准检测程序，因为它提供了很大的可定制性。
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2016-1-8 22:49 上传
CrystalDiskMark与TxBENCH测速图。速度差异的原因主要是TxBench测试采用512K连续读取，而其他测速软件采用4MB~16MB连续读取。
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2016-1-8 22:54 上传
PCMARK 8 存储测试衡量你系统里的固态硬盘，机械硬盘和混合硬盘性能，测试结果不受到CPU或者GPU性能的影响。
PCMARK 8在进行测试的时候，回放母机记录的所有存储I/O轨迹，由于完全按照轨迹的时间轴来进行，因此不同硬件平台的差异性即可被忽略（例如不管你的CPU多强，它永远按照他的记录时间轨迹回放，就像看视频一样，在某个时段会有几个读取，在什么位置，大小是多少，都是固定的），然后在回放处理这些存储I/O的时候就是测试当前回放硬件存储系统的性能并打分。这些记录的存储I/O操作都是来自家庭用户常用的Adobe软件，微软Office软件，流行的游戏，直接反映出用户的存储设备在实际使用中的真实性能，整个测试的数据量接近50GB，精度也比PCMARK 7大幅度提高。
CHIPFANCIER 128GB优盘 总得分4891，此成绩和中等的固态硬盘相当。
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2016-1-8 22:54 上传
细节项目得分。
与之对比，三星850EVO的评测总分为4983，东芝EX1作为普通优盘中性能较好的，得到了3742分。
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2016-1-8 23:54 上传
三、温度
由于固态硬盘主控发热大，优盘体积小，对散热设计提出了很高的要求。
旧款的CHIPFANCIER优盘，采用塑料外壳，造成热量堆积，发热大成为一个缺点
新款金属外壳 改进了散热情况，下面来看具体的表现，测试的环境温度约为23度。
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2016-1-8 23:01 上传
上图表现的是PCMARK8测试过程中优盘的温度变化，PCMARK8测试能够反映一般操作时的表现，最高温度57度，用手摸外壳有温热的感觉，但还说不上烫，相比旧款有了较大改进。
四、进阶测试项目：4KB QD1 ~ QD64的 随机读写理论测试
既然是一款采用固态硬盘主控的优盘 ，下面将按照固态硬盘的标准对此优盘进行测试。
首先是QD趋势测试，测试采用CrystalDiskMark软件。
此测试目的是为了试探SSD的并发优化程度和IOPS封顶数值。
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2016-1-8 23:09 上传
从图中可看出CHIPFANCIER 128GB优盘在QD=8时达到IOPS最大值。
五、进阶测试项目：4KB QD32 随机写入离散度测试
4KB QD32 随机写入离散度测试，时间1000秒。测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 （Pseudo随机数据模型）填充满全盘LBA，设置4KB QD32 ， 4KB分区对齐，随机写入100%，1秒记录一次采样，1000个采样一共1000秒。离散测试主要是用于给需要在持续高负载且对写入延迟需求很苛刻的使用环境下作参考之用。
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2016-1-8 23:19 上传
上图为设置25% 三级OP空间的离散度表现，1000秒的测试，IOPS仍然稳定在8000-10000，这个表现应该可以达到消费级中等SSD的水品。
因此，如果需要应用在一些极端环境，例如数据库服务器，设置OP空间可以显著提高性能。
当然对于一款优盘，它不可能应用在那种极端环境。对于一般的使用者，并没有必要关注这些，毕竟与普通优盘对比，表现已经非常优秀。
六、GC效率测试
Windows To Go功能将优盘，长期作为系统盘使用，垃圾回收效率非常关键。若GC效率低，使用一段时间就会出现卡顿问题。
首先是空盘写入性能测试
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2016-1-8 23:29 上传
然后我们使用IOMeter软件在RAW模式下进行2000秒的 4K随机写入，尽可能往盘里增加“垃圾”，制造碎片数据，模拟SSD正在GC操作，全盘写满后，然后马上进行测试，得到SSD高强度写入后的测试成绩。
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2016-1-8 23:32 上传
在SSD遍布“垃圾”时，性能下降已经非常厉害，上图是使用TxBENCH软件对前32024035328字节进行的写入测试。这时我们等待7分钟，再次测试。
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2016-1-8 23:35 上传
如上图，前32024035328字节性能已经基本恢复，在不支持TRIM的情况下，垃圾回收效率仍然比较高，使用过程中完全不必担心卡顿。
七、总结
测试环境：
CPU:I3-4005U，RAM:8GB DDR3L，原生USB3.0接口，Win10 TH2企业版系统。
看过上面固态硬盘测试项目后，不要忘了这只是一款优盘，在有限的空间、供电条件下，这样的表现已经是远远超过了普通优盘.
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